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講師は名古屋大学准教授として、最先端の半導体技術を研究する傍ら、様々な企業のプロセスインフォマティクス導入の支援に取り組んでいます。
このコースは半導体業界に従事される方がSiCの基礎的な理論やSiCウエハの結晶欠陥の評価技術について、学べることを目指しています。
講師 原田俊太
名古屋大学 未来材料・システム研究所 准教授
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※このビデオコンテンツは既に終了しているセミナーの録画です。